?三次元測(cè)量?jī)x，又稱為三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（Coordinate Measuring Machine，CMM），是一種用于精確測(cè)量物體三維空間尺寸和形狀的精密測(cè)量設(shè)備。挑選合適的三次元測(cè)量?jī)x測(cè)頭，需要綜合考慮測(cè)量任務(wù)、精度要求、測(cè)量環(huán)境等多方面因素，以下是具體的挑選要點(diǎn)：
按測(cè)量任務(wù)
接觸式測(cè)量任務(wù)
單點(diǎn)測(cè)量：若只需獲取物體表面離散點(diǎn)的坐標(biāo)，如測(cè)量孔的位置、圓柱的直徑等，觸發(fā)式測(cè)頭是較好的選擇。它通過與被測(cè)物體接觸觸發(fā)來獲取測(cè)量點(diǎn)數(shù)據(jù)，操作簡(jiǎn)單、成本較低，能滿足大多數(shù)單點(diǎn)測(cè)量的精度要求。
連續(xù)掃描測(cè)量：對(duì)于需要獲取大量連續(xù)數(shù)據(jù)以描繪物體輪廓或曲面的任務(wù)，如汽車覆蓋件、葉輪等復(fù)雜曲面的測(cè)量，掃描測(cè)頭更為合適。它可以在物體表面連續(xù)移動(dòng)并實(shí)時(shí)采集數(shù)據(jù)，能夠快速、精確地獲取物體的三維輪廓信息。
非接觸式測(cè)量任務(wù)
透明或柔軟物體測(cè)量：對(duì)于玻璃、橡膠等透明或柔軟的物體，由于接觸式測(cè)量可能會(huì)對(duì)物體表面造成損傷或變形，此時(shí)應(yīng)選擇光學(xué)非接觸式測(cè)頭，如激光三角測(cè)量測(cè)頭、白光干涉測(cè)頭。它們通過光學(xué)原理測(cè)量物體表面的反射光或散射光來獲取坐標(biāo)信息，不會(huì)對(duì)被測(cè)物體產(chǎn)生物理接觸力。
微小零件或特征測(cè)量：在測(cè)量微小零件或具有微小特征的物體時(shí)，如電子芯片、微機(jī)械零件等，需要高分辨率和高精度的測(cè)量。掃描電子顯微鏡（SEM）測(cè)頭或原子力顯微鏡（AFM）測(cè)頭能夠滿足這種需求，它們可以在納米尺度上對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量，提供極其精確的表面形貌信息。
按精度要求
高精度測(cè)量：當(dāng)測(cè)量精度要求達(dá)到微米甚至納米級(jí)別時(shí)，如航空航天領(lǐng)域的葉片測(cè)量、精密模具的檢測(cè)等，應(yīng)選擇精度高的測(cè)頭，如高精度的激光干涉測(cè)頭、電容式測(cè)頭。這些測(cè)頭具有較高的分辨率和較小的測(cè)量不確定度，能夠滿足高精度測(cè)量的要求。
一般精度測(cè)量：對(duì)于一般工業(yè)生產(chǎn)中的測(cè)量任務(wù)，如汽車零部件的批量檢測(cè)、機(jī)械加工零件的常規(guī)測(cè)量等，測(cè)量精度要求相對(duì)較低，可選擇觸發(fā)式測(cè)頭或普通的光學(xué)測(cè)頭，這些測(cè)頭具有較高的性價(jià)比，能夠在滿足測(cè)量精度要求的同時(shí)，降低測(cè)量成本。
按測(cè)量環(huán)境
惡劣環(huán)境：在高溫、潮濕、粉塵等惡劣環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量時(shí)，需要選擇具有良好防護(hù)性能的測(cè)頭。例如，防水防塵等級(jí)高的接觸式測(cè)頭或具有抗干擾能力的激光測(cè)頭，能夠在惡劣環(huán)境中穩(wěn)定工作，保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
潔凈環(huán)境：在實(shí)驗(yàn)室等潔凈環(huán)境中，對(duì)測(cè)頭的清潔度要求較高。非接觸式的光學(xué)測(cè)頭由于不會(huì)產(chǎn)生磨損和碎屑，更適合在這種環(huán)境下使用。同時(shí)，要注意測(cè)頭的材料應(yīng)具有良好的耐腐蝕性和穩(wěn)定性，以避免對(duì)測(cè)量環(huán)境造成污染。
按被測(cè)材料
硬脆材料：對(duì)于金屬、陶瓷等硬脆材料的測(cè)量，可選擇硬質(zhì)合金或金剛石材質(zhì)的接觸式測(cè)頭，它們具有較高的硬度和耐磨性，能夠在不損壞測(cè)頭的前提下，準(zhǔn)確測(cè)量硬脆材料的表面特征。
軟質(zhì)材料：測(cè)量塑料、橡膠等軟質(zhì)材料時(shí)，為了避免測(cè)頭對(duì)材料表面造成壓痕或變形，應(yīng)選擇接觸力小的測(cè)頭，如光學(xué)測(cè)頭或采用特殊彈性材料制成的接觸式測(cè)頭。